對陶瓷電容（通常也稱MLCC，即多層陶瓷電容）而言，“容差”一詞是指設備電容與標稱值的偏差，這僅僅是由制造過程中的變化引起的。 容差是在嚴格定義的測試條件下測量的，該過程經過專門設計以排除其他因素對指定設備的測量電容的影響。
將“容差”理解為一個總范圍是一種普遍的誤解，有人認為無論測量條件如何，測量值都應在標稱值的規(guī)定容差范圍內。許多產品的特性非常穩(wěn)定，因此很容易讓人忽略這一區(qū)別；而陶瓷電容并不屬于這類產品。
然而，許多基于2類和3類電介質的陶瓷電容的電容特性極不穩(wěn)定，因此隨意測量往往會得出超出標稱值的規(guī)定“容差”之外的電容值。這并不代表產品有缺陷或不合規(guī)格，這只是技術的性質和特點所致。
影響陶瓷電容的觀測電容的三個重要因素可歸納為三個“T”：
測試信號（Test signal）、溫度（Temperature）和時間（Time）。
“容差”僅表示一個會影響陶瓷電容觀測值的因素，而非所有因素的總和。
這些其他因素所造成的影響可能遠大于指定的容差值。但這并不能被視為產品缺陷或不符合產品規(guī)格。
使用的測試信號、設備溫度和設備后一次去老化后的時間都會影響陶瓷電容的觀測電容。所有這些因素都必須符合廠商的測試條件，以便進行有效的電容測量，從而終確定該電容是否符合廠商的規(guī)格。
許多萬用表上的電容測量功能并不能有效地確定產品是否符合廠商的規(guī)格。
如果您需要一個已知的穩(wěn)定電容，根本不用考慮基于1類電介質（C0G或NP0為常見）以外的陶瓷電容。
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