導(dǎo)讀：
1、測(cè)試條件對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響、
2、測(cè)量?jī)x器的差異對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響、
3、影響高容量電容容值測(cè)量偏低的因素，分析貼片電容容值偏低的原因，給出解決方法，首先考慮測(cè)量條件的問(wèn)題。
很多人都會(huì)犯的錯(cuò)誤，就是亂使用測(cè)量?jī)x器判斷貼片電容出現(xiàn)的問(wèn)題，要想解決問(wèn)題，首先要測(cè)試數(shù)據(jù)找到問(wèn)題所在。
1、測(cè)試條件對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
首先考慮測(cè)量條件的問(wèn)題，對(duì)于不同容值的貼片電容會(huì)采用不同的測(cè)試條件來(lái)測(cè)量容值，主要在測(cè)試電壓的設(shè)定和測(cè)試頻率的設(shè)定上有區(qū)別，下表所示為不同容值的量測(cè)條件:
| 電容
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AC 電壓
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頻率
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容量>10μF
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1.0± 0.2Vrms
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120Hz
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1000pF<容量≦10μF
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1.0± 0.2Vrms
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1kHz
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容量≦ 1000pF
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1.0± 0.2Vrms
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1MHz
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2、測(cè)量?jī)x器的差異對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
大容量的電容(通常指1UF以上)測(cè)量時(shí)更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電容兩端的實(shí)際電壓不能達(dá)到測(cè)試條件所需求的電壓，這是因?yàn)榧釉陔娙輧啥说臏y(cè)試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實(shí)際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測(cè)量結(jié)果誤差降到,我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實(shí)際加在電容兩端所測(cè)的電壓盡量調(diào)整,使實(shí)際于待測(cè)電容上輸?shù)某鲭妷阂恢隆?
注意： 上表中所示的電壓是指實(shí)際加在測(cè)試電容兩端的有效電壓(理想電壓)。
由于測(cè)試儀器的原因，加在電容兩端實(shí)際的輸出電壓與設(shè)定的測(cè)量電壓(理想電壓)實(shí)際上可能會(huì)有所出入
3、影響高容量電容容值測(cè)量偏低的因素
(1) 測(cè)試儀器內(nèi)部的阻抗之大小影響
由于不同的測(cè)試儀器之間的內(nèi)部阻抗都不同，造成儀器將總電壓分壓而使加在測(cè)試電容兩端的實(shí)際電壓變小。在實(shí)際的測(cè)試過(guò)程中，我們有必要先使用萬(wàn)用表等工具測(cè)試夾具兩端的實(shí)際電壓，以確定加在測(cè)試貼片電容兩端的輸出電壓。
(2)不同阻抗的測(cè)試儀器的輸出電壓對(duì)比如下：
儀器內(nèi)阻100Ω
1V * [100Ω/(100Ω+16Ω)] = 0.86V；
提醒一下！貼片電容與其他電容不同，數(shù)據(jù)也有不同之處。*代理商-*電容代理商更新 深圳
