avx鉭電容的原理

　　貼片鉭電容封裝AVX代理商

　　AVX鉭電容命名規(guī)則如下所示：

　　1、鉭電容型號表示方法

　　TAJ C 100 K 010 R

　　① ② ③ ④ ⑤ ⑥

　�、� 表示系列，AVX有TAJ和TPS兩個系列，TAJ表示普通鉭電容，TPS表示的是低阻抗鉭電容，直流電阻小于1歐，一般在100毫歐到500毫歐之間，特殊的可以低到40毫歐。

　�、� 表示鉭電容的尺寸大小，有A、B、C、D、E、Y、V六種尺寸

　�、� 表示電容的容量，范圍從0.1UF----1000UF

　�、� 表示容量誤差，貼片鉭電容的容量誤差有兩種：是±10%（K）和±20%（M）

　�、� 表示電容的耐壓，指在85℃時額定直流電壓，鉭電容的耐壓范圍從4V---50V

　�、� 表示包裝方式，有兩種包裝方式，7寸盤和13寸盤

　　2、外形尺寸

　　AVX鉭電容代理失效模式,機(jī)理和失效特點(diǎn)

　　對于鉭電容，失效與其他類型的電容一樣,也有電參數(shù)變化失效、短路失效和開路失效三種。由于鉭電容的電性能穩(wěn)定,且有獨(dú)特的“自愈”特性,鉭電容鮮有參數(shù)變化引起的失效，鉭電容失效大部分是由于電路降額不足，反向電壓，過功耗導(dǎo)致，主要的失效模式是短路。另外,根據(jù)鉭電容的失效統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),鉭電容發(fā)生開路性失效的情況也極少。因此,鉭電容失效主要表現(xiàn)為短路性失效。鉭電容短路性失效模式的機(jī)理是:固體鉭電容的介質(zhì)Ta2O5由于原材料不純或工藝中的原因而存在雜質(zhì)、裂紋、孔洞等疵點(diǎn)或缺陷,鉭塊在經(jīng)過高溫?zé)�結(jié)時已將大部分疵點(diǎn)或缺陷燒毀或蒸發(fā)掉,但仍有少量存在。在賦能、老煉等過程中,這些疵點(diǎn)在電壓、溫度的作用下轉(zhuǎn)化為場致晶化的發(fā)源地—晶核;在長期作用下,促使介質(zhì)膜以較快的速度發(fā)發(fā)生物理、化學(xué)變化,產(chǎn)生應(yīng)力的積累,到一定時候便引起介質(zhì)局部的過熱擊穿。如果介質(zhì)氧化膜中的缺陷部位較大且集中,一旦在熱應(yīng)力和電應(yīng)力作用下出現(xiàn)瞬時擊穿,則很大的短路電流將使電容迅速過熱而失去熱平衡,鉭電容固有的“自愈”特性已無法修補(bǔ)氧化膜,從而導(dǎo)致鉭電容迅速擊穿失效 。

　　失效機(jī)理主要是由于氧化膜缺陷，鉭塊與陽極引出線接觸產(chǎn)生相對位移，陽極引出鉭絲與氧化膜顆粒接觸等，大部分鉭電容失效是災(zāi)難性的，可能發(fā)生燒毀，爆炸，在應(yīng)用過程中需特別注意。